日本OMRON形狀測量傳感器支持多品種、小批量可向控制器本體輸入Z多16個(16個數據庫)測量條件。只需通過信號輸入/指令輸入/按鍵操作即可進行數據庫切換。如果使用數據儲存單元,更可以輸入Z多4096個數據庫,即使在品種繁多的線上,也可快速對應各種測量。
日本OMRON形狀測量傳感器
支持多品種、小批量
可向控制器本體輸入zui多16個(16個數據庫)測量條件。只需通過信號輸入/指令輸入/按鍵操作即可進行數據庫切換。如果使用數據儲存單元,更可以輸入zui多4096個數據庫,即使在品種繁多的線上,也可快速對應各種測量。
更簡單,更高精度的形狀測量。
穩定測量難以檢測的顏色、材質與復雜形狀
構造簡單
安裝簡便。只需要安裝傳感器探頭與控制器,即可投入使用。
傾斜的透明物體、反光面
對于反光面和透明物體等正反射較強的測量對象,如果稍有傾斜,光反射量就會驟減,導致測量變得不穩定。而配置高高斯透鏡探頭的ZG2-WDS3VT課解決該問題。傾斜對應范圍比此前型號擴大2.5倍,可在zui大±5°傾斜范圍內實現穩定測量。使用與檢測鏡頭與玻璃板等的組裝。
光學方式 漫反射 正反射 漫反射 正反射 漫反射 正反射 漫反射
測量范圍 高度方向 50±3mm 44±2mm 100±12mm 94±10mm 210±48mm
(高精度模式中) 22.3±0.5mm 10.6±0.4mm
寬度方向 8mmTYP 22mmTYP 70mmTYP 0.25μm
分辨率 高度方向(*1) 1μm 2.5μm 6μm 3mmTYP
寬度方向 13μm
(8mm/631pix) 35μm
(22mm/631pix) 111μm111μm
(70mm/631pix) 5μm
(3mm/631pix)
日本OMRON形狀測量傳感器
線性(高度方向)(*2) ±0.1%F.S.
溫度特性(*3) 0.03%F.S./℃ 0.02%F.S./℃ 0.08%F.S./℃
光源 種類 可視半導體激光
波長 658nm 650nm
輸出 zui大輸出5mW zui大曝光(未使用光學儀器時)1mW 1mW max
激光等 EN60825-1/IEC60825-1的2M、FDA的ⅢB(21CFR1040.10與1040.11) EN60825-1/IEC60825-1的2、FDA的Ⅱ(21CFR1040.10與1040.11)
光束形狀(根據測量距離)(*4) 30μm×24mmTYP 60μm×45mmTYP 120μm×75mmTYP 120μm×75mmTYP
LED顯示燈 STAND BY:激光發光準備就緒時亮起(顯示顏色:綠)
LD_ON:激光發光時亮起(顯示顏色:綠)
測量對象 不透明物體/透明物體表面 不透明物體表面 不透明物體/透明物體表面
型號
G3B-205S-VD DC5-24
D4F-220-3R
D-1100
D5F-2B34C-Y
J7KNA-09-10 48D
E3T-ST13R 2M
J7KN-40 400
A16-24DSW
E6F-AB5B 360 2M
XW2Z-050J-A25
XW2Z-200J-B5
E39-F32C 1M
XS2R-D426-5
D4BL-1DRA
D4BL-1DRG
A16L-JR
K32-23209
E2K-F10MC1
E2K-X4MY2
TL-N10MY2 2M
TL-W3MB1-8
CS1W-NC113
CS1W-NC133
SHL-Q55
XV2-Q-2
CS1W-MD262
CPM2B-32C1DR-D
3G3JV-PFI3005-E
E6CP-AG5C-C 256 2M
ZX-EDA11 2M
ZX-CAL2
ZX-ED01T